处置人工剖析缺点形成基板加工效率低下的疑问 深南电路开放确定基板缺点相关专利 (处置人工剖析的目的)

专利摘要显示，本发明地下了一种确定基板缺点的方法、装置、计算机设备及存储介质，以处置基板消费环节中，由人工对缺点信息启动剖析，从而形成基板加工效率低下的疑问。该方法包括：失掉基板的中心设计信息，中心设计信息包括基板的尺寸，以及基板零部件的尺寸、位置；生成与基板的尺寸等比例的初始矩阵图；依照基板零部件的尺寸和位置，在初始矩阵图中映射出基板的一切零部件，得出基础矩阵图；确定基板的加工缺点在基板上的位置，作为缺点位置；将加工缺点的缺点标识符和加工工序，作为缺点信息；将缺点信息标志在基础矩阵图中的缺点位置上，得出基板的缺点表示图。