简易成功待测试件与衔接基体衔接并坚持举措同步 天合光能取得一种强度测试衔接结构及设备专利

专利摘要显示，本开放提供了一种强度测试衔接结构及设备，其中，强度测试衔接结构包括，衔接基体，用于衔接在测试设备上，所述衔接基体上开设有通孔；衔接套管，插设在所述通孔内，与所述衔接基体插接衔接；所述衔接套管外圈与所述通孔间隙配合，并限制所述衔接套管相对所述衔接基体转动；所述衔接套管用于供待测试件拔出、并限制待测试件与所述衔接基体坚持举措同步。在上述技术方案中，设置衔接套管与衔接基体插接衔接，待测试件插设在衔接套管内，如此能够简易的成功待测试件与衔接基体的衔接，并坚持二者举措同步；并且对二者衔接的环节不会看待测试件或是衔接基体构成损坏，能够成功重复经常经常使用。